MicroDrop法用于基于Wenzel-Cassie模型接觸角測(cè)量

目前傳統(tǒng)的接觸角測(cè)量的測(cè)試液滴形態(tài)通常為停滴法（Sessile Drop method)，其他的液滴形態(tài)如懸滴法（Pendant Drop method）通常用于界面張力的測(cè)值。

可見(jiàn)，懸滴法測(cè)量時(shí)通常是液滴掛在針頭下方，這樣，固體的能量很少影響到液滴的整體輪廓，能量影響通常小于13%。而停滴法時(shí)，由于固體的表面能量作用于液滴的輪廓圖像占的百分比通常超過(guò)70%。

但是，我們知道的固體材料的客觀規(guī)律為：

1、固體材料存在接觸角滯后現(xiàn)象：這種接觸角滯后是由于固體材料的表面粗糙度、化學(xué)多樣性以及異構(gòu)性導(dǎo)致的。注：不是僅僅表面粗糙度一項(xiàng)，因而同行宣稱修正3D形貌探測(cè)得到的粗糙度并進(jìn)而測(cè)試固體的表征接觸角值并不是科學(xué)的方法。

2、固體材料表面存在的Wenzel-Cassie模型：通常的分界角度為90度，即90度以上，Wenzel-Cassie模型會(huì)明顯作用于固體的接觸角測(cè)值。

3、重力影響條件下接觸角測(cè)量如何修正？

傳統(tǒng)的停滴法（Sessile Drop）評(píng)估接觸角的重點(diǎn)在于如何修正重力影響并將接觸角值測(cè)值結(jié)果更符合界面化學(xué)分析的科學(xué)要求。因而，接觸角測(cè)量的技術(shù)路線的發(fā)展以量角器（1946-1980年左右）--- 數(shù)碼量角器（1980年--）- Young-Laplace方程擬合（1989年--）-- ADSA-RealDrop/TrueDrop （2015年--）。

但是，以上的技術(shù)發(fā)展路線一直沒(méi)有根本上解決Wenzel-Cassie模型的影響以及根本上解決重力的影響問(wèn)題。

美國(guó)科諾及其戰(zhàn)略投資公司上海梭倫于2018年提出MicroDrop測(cè)試接觸角技術(shù)，其技術(shù)核心為ADSA-RealDrop/TrueDrop 算法，且重力作用的方向與樣品面相反。與懸滴法不同的是，MicroDrop法的液滴輪廓描述的是70%固體能量影響下的固液界面。因而，在修正重力系數(shù)-表面張力系數(shù)（界面張力）的條件下，其測(cè)值結(jié)果相比較于傳統(tǒng)算法更具有優(yōu)勢(shì)。

1）采用傳統(tǒng)的接觸角測(cè)量方法時(shí)，接觸角測(cè)值速度采用100幀/秒時(shí)，共拍得2張圖片，在慢放條件條件下，接觸角變化圖像如下所示：

（2）采用MicropDrop法時(shí)，同樣的100幀/秒條件下，接觸角的變化圖像如下所示：

因而相對(duì)于98%以上的樣品均體現(xiàn)為非軸對(duì)稱而言，傳統(tǒng)的停滴法無(wú)法表征固體材料的性質(zhì)。所以，更進(jìn)一步的，傳統(tǒng)的接觸角測(cè)量?jī)x只能符合2%以下的樣品的測(cè)試需求。只是在理念沒(méi)有升級(jí)到MicroDrop法時(shí)，很多人員沒(méi)有進(jìn)一步認(rèn)識(shí)到這一點(diǎn)。